Call us on:
+359 2 958 78 85

Научно приложна дейност / Рентгеноструктурен анализ и XRF



XRD рентгенови дифрактометри

G.N.R. Analytical Instruments

Производител на оптични емисионни спектрометри (OES) за измерване на химичния елементен състав на метални сплави, както и лабораторни и портативни рентгенови дифрактометри (XRD) и флуоресцентни (XRF) апарати за изследване на различни материални структури и химичен състав.

 

 

 

 

 

 

 

  Основни модели рентгенови дифрактометри (XRD):
   
 
 

Explorer e рентгенов дифрактометър (XRD) с висока резолюция. Разполага с много ефиктивна система на контрол на движение, даваща възможност за постигане на ъглова резолюция от 0,00001о. Модулната структура на апарата позволява извършване на широк кръг изследвания, като прахов и монокристален рентгеноструктурен анализ, както и изследване на тънки слоеве.

EXPLORER предлага решения за широк спектър от аналитични изисквания, от рутинна идентификация и количествен анализ на кристална фаза, размер на кристалита/ напрежение на решетката, степен на кристалност, остатъчен аустенит, полиморфен скрининг, анализ на кристални структури, анализ на остатъчен стрес, тънки слоеве, дълбочинно профилиране, фазов преход, текстури и предпочитана ориентация, наночастици.

   
 

Stress-X позволява да се измерва остатъчен стрес посредством безразрушителен анализ, на проби без значение на размерите, благодарение на оригинално монтирана дифрактометрична глава върху робот с 6 антропоморфни оси.
Робота позволява точност на позициониране и повторяемост от 20µm.
Благодарение на шестте степени на свобода, позициите на измерване и ъгловите обхвати са практически неограничени.